복잡한 전자 장치의 회로에서 모든 연결은 매우 중요합니다.그들의 현미경적 거리가 신호 전송 안정성과 전체 장치 성능에 직접적인 영향을 미치는 경우커넥터 간격의 작은 오차조차도 운영 불안정을 초래할 수 있으며, 상당한 변동은 단회로 또는 영구적 인 손상을 일으킬 수 있습니다.이 기사에서는 이러한 중요한 JST 커넥터 간격에 대한 정확한 측정 방법을 검토합니다..
단 한 줄 내의 인접한 핀 또는 접촉자 사이의 중심에서 중심까지의 거리로 정의되는 커넥터 피치는 커넥터 설계 및 제조에서 기본 매개 변수를 나타냅니다.이 측정은 커넥터 크기에 직접 영향을 미칩니다.산업 표준 피치에는 0.5mm, 1.0mm, 1.25mm, 1.5mm, 2.0mm, 2.54mm 및 3.0mm 변형이 포함됩니다.
이론적으로 베니어 칼리퍼를 사용하여 직접 핀 간격을 측정하는 것이 가능하지만, 측정 턱을 핀 센터와 정확하게 정렬하는 데 실용적인 과제가 발생합니다.대체 간접 측정 방법은 보다 정확한 결과를 제공합니다.:
커넥터 하우징의 경우 기술자는 인접한 구멍 가장자리 사이의 거리를 측정할 수 있습니다. (차원 B로 지정됩니다.)그것은 중앙 정렬을 요구하지 않고 정확한 간격 값을 제공합니다.
멀티 서킷 하우징의 경우 가장 외곽 회로 (차원 C) 사이의 총 거리를 측정하고 (회로 수 - 1) 로 나눕니다. 6 회로 하우징은 5로 나눕니다.예를 들어이 평균 방식은 측정 오류를 줄입니다.
핀 헤더의 경우, 인접한 접촉자 (B) 사이의 외부 차원을 측정하고 접촉 너비 (W) 를 깎아 내립니다. 공식은: 피치 = B - W입니다. 이것은 접촉 기하학을 설명합니다.
여러 개의 접촉을 가진 고밀도 연결 장치의 경우 여러 개의 접촉의 총 범위를 측정합니다 (C), 결합된 접촉 너비를 빼고 (접촉 수 - 1) 로 나눕니다. 다섯 개의 접촉에 대해:피치 = (C - W) / 4.
JST 커넥터를 측정 할 때 먼저 구성 요소가 하우시 또는 핀 헤더인지 확인합니다. 그에 따라 적절한 측정 전략을 선택하십시오.고 정밀 한 칼리퍼 를 사용 하고 평균 값 을 결정 하기 위해 여러 가지 측정 을 수행 한다, 무작위 오류를 최소화합니다. 시각적 오차를 방지하기 위해 적절한 조명 조건을 보장합니다.
버니어 칼리퍼는 대부분의 응용 분야에 적합하지만 광학 비교기 또는 현미경과 같은 전문 장비는 0.5mm 이하의 초미세 피치 커넥터에 필요할 수 있습니다.이 장비들은 중요한 측정에 더 높은 해상도를 제공합니다..
측정 정확도는 여러 가지 요인에 달려 있습니다.
우수한 사례는 인증 된 측정 도구, 운영자 교육 프로그램, 제어 된 측정 환경 및 여러 측정의 통계 분석을 사용합니다.
유비쿼터스 2.54mm (0.1 인치) 피치는 부품 호환성을 보장하는 산업 표준으로 남아 있습니다.피치 선택은 임피던스 매칭과 크로스 스톡 고려를 통해 신호 무결성에 영향을 미칩니다.설계자는 물리적 차원과 전기 성능 요구 사항을 균형 잡아야 합니다.
계속되는 소형화 추세는 0.5mm 이하의 초미세 피치 커넥터의 개발을 주도합니다.이러한 고밀도 솔루션은 보다 컴팩트한 전자 설계가 가능하지만 새로운 측정 과제를 제시합니다.재료와 제조의 발전은 신뢰성을 유지하면서 피치 크기를 더욱 증가시킬 것입니다.
